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光譜分析儀常用光源的放電方式
光譜分析儀總是以速度快的優(yōu)勢(shì)越來(lái)越占據(jù)整個(gè)分析市場(chǎng)，會(huì)越來(lái)越流行的，光譜分析儀的制造也是非常精密的。
光譜分析儀常用光源有以下幾種放電方式：
1. 高能預(yù)火花放電很大電流可達(dá)150安和燃燒時(shí)間為150微秒，這樣使試樣中燃燒斑點(diǎn)內(nèi)的組織結(jié)構(gòu)更加均勻，由此來(lái)消除元素之間干擾及元素之間結(jié)合等效應(yīng)。
2.火花型放電對(duì)大多數(shù)元素重現(xiàn)性好。
3. 電弧型放電重現(xiàn)性要比火花放電差2—3倍，但對(duì)痕量元素檢要低得多。
因此在選擇光源時(shí)應(yīng)盡量滿足以下要求：
1.高靈敏度，隨著樣品中元素濃度微小變化，其檢出的信號(hào)有較大的變化;
2.低檢，能對(duì)微量及痕量成分進(jìn)行檢驗(yàn);
3.良好的穩(wěn)定性，試樣能穩(wěn)定的蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，使結(jié)果具有較高的精密度：
4.譜線強(qiáng)度與背景強(qiáng)度之比大(信噪比大);
5. 分析速度快，預(yù)燃時(shí)間短;
6.構(gòu)造簡(jiǎn)單，容易操作，安全;
7.自吸收效應(yīng)小，校準(zhǔn)曲線的線性范圍寬。
光源激發(fā)條件的選擇，要根據(jù)分析對(duì)象經(jīng)過(guò)試驗(yàn)來(lái)決定。 對(duì)于不同的試樣在不同的光源下其預(yù)燃時(shí)間是不一樣的，這主要取決于試樣在火花放電時(shí)的蒸發(fā)過(guò)程，它不僅與光源的能量、放電氣氛密切有關(guān)以外，還與試樣組成、結(jié)構(gòu)狀態(tài)、夾雜物種類、大小等等密切有關(guān)。
在氬氣氣氛中的火花放電一般可以分為兩種極端狀態(tài)：濃縮放電和擴(kuò)散放電。當(dāng)放電是在金屬相上進(jìn)行時(shí)稱濃縮放電，當(dāng)放電是在非金屬相上進(jìn)行時(shí)稱擴(kuò)散放電。在氬氣中放電時(shí)，產(chǎn)生擴(kuò)散放電的主要原因有以下三個(gè)方面：1.氬氣的純度;2.氬氣的出入口管道或放電室的泄露是使放電過(guò)程中引入氧氣的第二個(gè)來(lái)源：3. 樣品本身是使放電過(guò)程中引入氧氣的第三個(gè)來(lái)源(如夾雜物，氣泡和裂紋等);在氬氣中放電時(shí)，氬氣壓力，氬氣流量及沖洗時(shí)間也均影響光電光譜分析的結(jié)果。
